Домашняя страница     Написать письмо     Карта сайта
Россия, Москва
Тел: (495) 943-43-42
Тел/Факс: (495) 936-49-71
nexsys@nexsys.ru
Отрезные станки Allied Станки для монтажа проб Allied Шлифовально-полировальное оборудование Allied Оптическая микроскопия Анализ изображений Твердомеры Qness Информация о компании

ImageExpert Pro 3
ImageExpert Sample 2
ImageExpert MicroHardness 2
ImageExpert Gauge
ImageExpert 3D
ImageExpert Sequencer 4
SW Complex Analysis
Требования к компьютеру
Загрузить программу
Система анализа изображений
Программы анализа изображений
Компания «Новые экспертные системы» является разработчиком специализированного программного обеспечения и представляет пакет программ для анализа изображений серии NEXSYS ImageExpert™. Каждая из предлагаемых нами программ является самостоятельным продуктом и охватывает свой диапазон задач. Их совместное использование решает практически все возникающие перед пользователем задачи, будь это вопросы металлографического контроля, медико-биологических или экологических исследований, научных исследований в области твёрдого тела, жидкостей или плазмы, и многие другие задачи.

Программа ImageExpert™ Pro 3
NEXSYS ImageExpert™ Pro 3 - Это программное обеспечение для количественного анализа изображений в науке и на производстве. Широкий набор функций по обработке изображений и выделению интересующих структурных элементов позволяют использовать анализатор для решения широкого круга задач. Оптимальное использование инструментов минимизирует применение ручных операций. Ещё на стадии предварительной обработки они позволяют, например, восстановить резкое изображение из ряда частично-резких, устранить дефекты освещённости шлифа, усилить чёткость мелких деталей. Результат работы основных фильтров отображается динамически, что позволяет оператору точно определить оптимальные настройки по живому изображению. На заключительных этапах обработки можно автоматически разделять слипшиеся частицы, восстанавливать сетку границ, удалять поры и граничные объекты, и многое другое.
Для выделенных объектов на изображениях рассчитывается несколько десятков количественных параметров, при этом их подборка и точность вывода настраиваются пользователем под конкретные виды анализа. Полученные количественные данные интерпретируются и представляются в соответствии с требованиями российских и международных стандартов. Пользователю предоставляется также возможность самостоятельно настраивать анализатор на требования нужных нормативных документов как по процедуре анализа, так и по отчётной документации. Отчёты формируются в среде текстового редактора Microsoft Word, что позволяет оператору перед распечаткой вносить дополнительные изменения в документ.
Программа включает в себя контекстно-зависимую справочную систему, что позволяет оператору оперативно определить назначение и порядок использования любого инструмента. Кроме того, на CD диске поставляется обучающий видеокурс, состоящий из набора видеофайлов, сгруппированных по тематикам. Это даёт возможность оператору продолжить своё обучение в любое удобное время.

Программа ImageExpert™ Sample 2
NEXSYS ImageExpert™ Sample 2 - Это программное обеспечение для качественного анализа изображений. Создание этого анализатора продиктовано тем фактом, что большое количество стандартов разрабатывалось очень давно и потому полностью или частично ориентированы на анализ структур посредством сравнения с эталонами.
Изображения с камеры напрямую поступают в программу анализа, автоматически масштабируются и пользователь назначает каждому полю зрения балл, сравнивая с эталонами в правой части программы, пролистывая их один за другим. На основе набранной статистики генерируется автоотчёт в Microsoft Word, включающий название шкалы стандарта, изображение, балы по полям зрения, гистограмму и таблицу, общую статистику и вывод, а также подпись оператора.
Пользователи также имеют возможность ввести в анализатор требуемые стандарты самостоятельно, но наряду с этим, могут заказать у нас за отдельную плату комплекты эталонных шкал из имеющихся у нас в наличии или предоставить первоисточник для генерации нужных шкал для анализатора.

Программа ImageExpert™ MicroHardness 2
Программа NEXSYS ImageExpert™ MicroHardness 2 является продолжением новой технологии ImageExpert™ третьего поколения и предназначена для измерения микротвёрдости фазовых структурных составляющих и для получения распределения микротвердости по толщине химико-термически обработанных слоев. Программа позволяет производить захват изображений отпечатков с цифровых или аналоговых видеокамер в реальном времени или загружать полученные ранее изображения из файлов. Адекватность полученных значений микротвёрдости обеспечивается проведением предварительной калибровки аппаратно-программного комплекса.
Анализ производится в полном соответствии с ГОСТ 9450-76 «Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников» по методу восстановленного отпечатка с использованием:
  • четырехгранной пирамиды с квадратным основанием;
  • трехгранной пирамиды с основанием в виде равностороннего треугольника;
  • четырехгранной пирамиды с ромбическим основанием;
  • бицилиндрического наконечника.
  • Программа ImageExpert™ Gauge
    Анализатор NEXSYS ImageExpert™ Gauge открывает серию программ NEXSYS® ImageExpert™ четвёртого поколения и предназначен для получения изображений анализируемых структур и материалов, наблюдаемых в микроскоп, с проведением оператором простых геометрических измерений элементов структуры в реальных физических единицах.
    Встроенный в программу мастер съёмки работает с широким спектром аналоговых и цифровых видеокамер (соответствующих стандарту драйверов TWAIN или WDM). Пользователь имеет возможность наблюдать на экране компьютера «живое» изображение и сохранять отдельные его кадры. Для удобства оператора, при работе с камерами высокого разрешения реализована возможность ступенчатого масштабирования для режима отображения видео и, при необходимости, для сохраняемых изображений. Анализатор поддерживает наиболее популярные графические растровые форматы: bmp, jpg, gif, tif, pcx, pcd, psd. Полученные изображения могут быть сохранены или распечатаны на принтере, в том числе и с включенным масштабным инструментом в виде мерного отрезка, сетки или перекрестия с рисками заданного шага.
    Для загруженных в программу изображений можно получать такие геометрические параметры, как линейная длина; значения углов определяемых по трём точкам или по двум не пересекающимся отрезкам; параметры окружности определяемой по трём точкам на её границе; параметры выпуклого четырёхугольника, определяемого по четырём точкам в углах фигуры; расстояния между центрами двух окружностей.

    Программа ImageExpert™ 3D
    Программа NEXSYS ImageExpert™ 3D предназначена для получения изображений анализируемых структур и реализует метод послойной микроскопии в условиях неполной резкости объёмных образцов, а также предназначен для реконструкции и анализа трёхмерных профилей объектов.
    Программа позволяет в интерактивном режиме получать резкие изображения объёмных объектов, снятых при большом увеличении, когда глубины резкости оптики уже не хватает и можно наблюдать только часть объекта. Пользователь имеет возможность делать снимки резких участков при различных положениях фокуса, наблюдая при этом, как программа компонует из них общее резкое изображение. Контроль за процессом восстановления позволяет оператору увидеть пропущенные резкие участки и добавить требуемые кадры для анализа.
    Метод послойной микроскопии позволяет также получать топографические рельефы объёмных объектов на основании информации из частично резких изображений. В этом случае, пользователь обязан производить съёмку частично резких слоёв строго в одном направлении по высоте.
    Анализатор имеет удобную возможность просмотра цветового или высотного рельефа из любой точки и в любой проекции. Трёхмерный просмотр позволяет пользователю при помощи мыши поворачивать рельеф по любой из осей, накладывать тени или подсветку, отображать рельеф в виде сетки или поверхности, а также отображать подвижную режущую плоскость для подчёркивания деталей рельефа.

    Программа ImageExpert™ Sequencer 4
    Программа NEXSYS ImageExpert™ Sequencer 4 предназначена для монтажа панорамных изображений в полностью автоматическом и полуавтоматическом режиме при активной съёмке, а также созданию панорам из последовательности предварительно снятых кадров при их ручной и автоматической расстановке и склейке. Пользователь всегда может вернуться к любой фазе монтажа и произвести контроль или коррекцию.
    Встроенный в программу мастер съёмки работает с широким спектром аналоговых и цифровых видеокамер. Пользователь имеет возможность наблюдать на экране компьютера «живое» изображение и сохранять отдельные его кадры, или производить съёмку и монтаж панорамы в автоматическом режиме «на лету». Условием проведения съёмки образца является непрерывность следования полей зрения в независимости от направления движения, расстановка последовательности изображений по местам и их сборка осуществляются автоматически. Предусмотрен также ручной режим и коррекция операций.
    Встроенный в программу набор фильтров позволяет эффективно сглаживать яркостные переходы, практически неизбежно возникающие при переходе между полями зрения. Интеллектуальный алгоритм сборки последовательности изображений справляется даже со сложными случаями изображений с перспективой, позволяя избежать разрывов в местах склейки. Автоматическая обрезка полученного панорамного изображения осуществляется одним щелчком мыши. Кнопки фильтрации и обрезки работают по круговому принципу применить/отменить, что позволяет легко оценить эффект их применения.

    Общий вид программы - заполненный подложконоситель
    Программное обеспечение SWComplexAnalysis предназначено для качественной и количественной оценки неоднородностей, возникающих во время эпитаксиального роста полупроводниковых структур методом МОСГФЭ. Использование данного ПО помогает оптимизировать параметры роста с целью значительного сокращения необходимого времени и материальных затрат при калибровке реактора перед выводом его на проектную мощность и при периодической эксплуатации.
    Решаемые задачи:
    • Построение карт сопротивления пластин: анализ однородности легирования;
    • Обработка и визуализация данных, получаемых с установки фотолюминесценции: карты фотолюминесценции и отражения на белом свете брэгговского зеркала;
    • Объединение данных по отдельным пластинам в единую структуру подложконосителя;
    • Построение радиальных сечений исходных данных (линейных профилей) как пластин, так и всего подложконосителя;
    • Количественный анализ неоднородности: статистический анализ данных;
    • Визуализация структуры камеры реактора роста совместно с анализируемыми данными.
    Помимо главных задач, связанных с контролем качества роста полупроводниковых структур и оценки неоднородности, возникающей во время МОСГФЭ, программа может открывать, анализировать и отображать в 3D текстовые файлы с массивом вершин, а также проводить количественный анализ яркости (и построение трёхмерного профиля) изображений по четырём моделям расчёта светимости. В программу также включён инструмент для визуальной оценки длины волны светящегося объекта по его фотографии.